直交表の作り方が理解できない

HAYST法とかいうやつで正しくテストケースを組めばテストケースの数を多くせずにバグの発見率も落とさずに済むらしい。是非組んでみたいのですがL64とかのケースをドキュメントとかを見よう見まねでやっても正しいのかよく分からないです。製造業分野などの実験などではメジャーなやり方らしいのですが。誰か詳しい人いませんかね。
頼りはHAYST法の発表資料とWEBページ。ソフトウェア・テストPress Vol2という雑誌にも載ってるらしいので探してみるか…